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2014-1
1)可以兩個(gè)不同的測(cè)試頻率下?lián)p耗因子的變化性來決定，若頻率升高而損耗增加，則應(yīng)選用串聯(lián)等效電路若頻率升高而損耗減小，則應(yīng)選用并聯(lián)等效電路。對(duì)于電感來說，情況正好與電容相反。實(shí)際中器件的不可能與頻率*成正比關(guān)系，其可能有并...
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2014-1
功率因數(shù)：在直流電路里，電壓乘電流就是有功功率。但在交流電路里，電壓乘電流是視在功率，而能起到作功的一部分功率（即有功功率）將小于視在功率。有功功率與視在功率之比叫做功率因數(shù)，以COSΦ表示，其實(shí)zui簡(jiǎn)單的測(cè)量...
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2014-1
在選擇安規(guī)測(cè)試儀時(shí)，您要考慮若干因素。首先，您要考慮安規(guī)測(cè)試項(xiàng)目，例如交流耐壓測(cè)試、直流耐壓測(cè)試、絕緣阻抗測(cè)試、接地連續(xù)性測(cè)試、接地阻抗測(cè)試或電弧偵測(cè)。其次，您需要了解測(cè)試條件，例如測(cè)試電壓、漏電流限制和測(cè)試時(shí)間。再次，...
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2014-1
LCR測(cè)試儀的基本精度，是在理想情況下能得到的*精度，基本精度排不會(huì)增加額外誤差因素，如夾具或測(cè)試線。早*測(cè)試新華、頻率、zui高精度設(shè)置或zui慢測(cè)量速度以及*待測(cè)物阻抗的條件下進(jìn)行計(jì)算。因此，了解實(shí)際測(cè)量精度非常重要...
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2014-1
記錄長(zhǎng)度就是存儲(chǔ)深度，1M的記錄長(zhǎng)度即可以記錄1M個(gè)點(diǎn)。存儲(chǔ)時(shí)間=存儲(chǔ)深度/采樣率，所以1M的存儲(chǔ)深度下采樣時(shí)間為20ms時(shí)，采樣率為50M,1M的記錄長(zhǎng)度在20ms時(shí)采樣率也是50M。
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2014-1
采樣模式通常有取樣、峰值檢測(cè)、平均、單次、正常和滾動(dòng)幾種；觸發(fā)類型通常有邊沿（上升沿/下降沿）、視頻、脈寬等幾種（有的還有建立/保持、矮脈沖、順序、邏輯及多種總線觸發(fā)）。對(duì)于一些信號(hào)通常需要選擇適合的采樣模式和觸發(fā)類型來...
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2014-1
一般的信號(hào)發(fā)生器電壓檔提供不了多大的電流，不足以驅(qū)動(dòng)電機(jī)。電機(jī)需要幾百毫安以上的電流才能驅(qū)動(dòng)。
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2014-1
醫(yī)療設(shè)備的定義為與病患(大多法規(guī)指為人類，歐規(guī)則指人類及動(dòng)物)有物理或電氣上的接觸，用於診斷、治療、監(jiān)控之設(shè)備。醫(yī)療設(shè)備的漏電流測(cè)試注重在Appliedpart－在一般使用情況下，以物理方式接觸病患或病患須碰觸的配件或設(shè)...
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2014-1
可靠性安規(guī)測(cè)試有：接地、功率、極性、老化、跌落、電源線拉力、高壓漏電、爬電、穩(wěn)定性等試驗(yàn)等，我們公司的LED燈具都做這些測(cè)試
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2014-1
一些元器件的測(cè)試條件是根據(jù)被測(cè)件在電路中的實(shí)際應(yīng)用或者根據(jù)相關(guān)產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)或者根據(jù)自己的要求。一般小于100pF電容用高于100K以上的頻率測(cè)量，如安柏的AT2818,國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試中等電容的測(cè)試頻率標(biāo)準(zhǔn)是1KHZ。電解類如鋁...
